JCID
JC F2 Módulo De Matriz De Puntos Para iPhoneX 12 Prueba DOT
JC F2 Módulo De Matriz De Puntos Para iPhoneX 12 Prueba DOT
SKU:SPT8010
Precio habitual
$482.000,00 COP
Precio habitual
Precio de oferta
$482.000,00 COP
Impuestos incluidos.
Los gastos de envío se calculan en la pantalla de pago.
Cantidad
No se pudo cargar la disponibilidad de retiro
El JC F2 Módulo De Matriz De Puntos para iPhoneX 12 es una herramienta profesional diseñada para técnicos de reparación de iPhone y centros de servicio que necesitan diagnosticar y restaurar el proyector de ID de cara. Su propuesta de valor es ofrecer prueba DOT, lectura y grabado confiable del módulo luminoso, permitiendo recuperar funciones de Face ID incluso cuando el cable o la comunicación I2C están dañados.
- Compatibilidad: Compatible con series iPhone X a 12, optimizado para módulos de matriz de puntos y Face ID, facilitando reparaciones en modelos recientes.
- Prueba DOT: Realiza pruebas de proyector DOT para comprobar el estado del emisor y del sensor, acelerando el diagnóstico.
- Lectura y escritura: Soporta lectura y grabado del módulo luminoso, permitiendo restaurar datos y calibraciones originales.
- Recuperación I2C: Soluciona fallos por cable dañado o desconexión I2C, evitando reemplazos innecesarios.
- Interfaz profesional: Diseñado para talleres, con procesos estables y resultados reproducibles en serie.
- Instalación sencilla: Conexiones claras y guía de uso que reducen el tiempo de reparación.
En resumen, el JC F2 es la solución eficiente para recuperar Face ID y el proyector DOT en iPhone X–12, combinando precisión técnica y facilidad de uso. Ordena ahora para mejorar la tasa de reparaciones y reducir tiempos de servicio.










